概要

品質評価の標準として広く使用されている分光高度計
固体材料の透過率および絶対反射率の測定が可能

詳細

製品名：UH4150
製造元：日立
測定：透過率、絶対反射率（AOI任意）
試料：結晶、薄膜
試料サイズ：最小2mmx2mm
光源：重水素ランプ、ハロゲンランプ
検出器：光電子増倍管、PbS
波長範囲：190nm-2600nm
オプション：積分球を用いた拡散反射測定