Institute for Solid State Physics, The University of Tokyo
■主要設備
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リガク製粉末X線回折計(SmartLab 3kW)。 主に粉末試料や薄膜試料の物質同定に用いる。構造解析も可能。 縦型ゴニオで粉末試料が落下しない。 測定は全自動で、ターゲットはCu (管球) を使用。 |
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IPX社製ラウエカメラ。比較的大きな結晶の方位決定に用いる。 イメージングプレート(IP)にて撮影する。ターゲットはWを使用。 *マニュアル: IPの使用法。 |
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リガク製単結晶構造解析装置(R-AXIS RAPID II)。 単結晶の軸立てや構造解析に用いる。ターゲットは、Moを使用。 *低温はしばらく中止 |
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リガク製極低温粉末X線回折計(SmartLab 9kW)。 主に粉末試料の構造解析や4Kまでの極低温測定に用いる。 測定は全自動で、ターゲットはCu (回転対陰極) を使用。 入射X線はヨハンソンモノクロによりCu Kα1に単色化されている。 |
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マックサイエンス社製イメージングプレート(IP)型回折計(DIP320V) 低温、高圧X線写真、結晶構造解析に用いている。 縦型のXYZゴニオメータ上に、2K冷凍機を備えている。 真空カメラになっており、全温度範囲で常に低バックグラウンドの撮影が可能。 ターゲットは、Moの回転対陰極(21kW)を用いている。 *現在利用停止中 |
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Bruker社製CCDシステム(SMART APEX)。 単結晶構造解析に用いている。detectorの性能、吸収補正は非常に良い。 Ｘ線はIPと共通線源であるので、IPの使用中に試料交換はできない。 *現在利用停止中 |