Institute for Solid State Physics, The University of Tokyo

主要設備

リガク製粉末X線回折計(SmartLab 3kW)。
主に粉末試料や薄膜試料の物質同定に用いる。構造解析も可能。
縦型ゴニオで粉末試料が落下しない。
測定は全自動で、ターゲットはCu (管球) を使用。
理学電機製ラウエカメラ。比較的大きな結晶の方位決定に用いる。
イメージングプレート(IP)にて撮影する。ターゲットはWを使用。
*マニュアル: IPの使用法
リガク製単結晶構造解析装置(R-AXIS RAPID II)。
単結晶構造解析に用いる。ターゲットは、Moを使用。
リガク製粉末X線回折計(SmartLab 9kW)。
主に粉末試料の構造解析や4Kまでの極低温測定に用いる。
測定は全自動で、ターゲットはCu (回転対陰極) を使用。
入射X線はCu Kα1に単色化している。        
マックサイエンス社製イメージングプレート(IP)型回折計(DIP320V)
低温、高圧X線写真、結晶構造解析に用いている。
縦型のXYZゴニオメータ上に、2K冷凍機を備えている。
真空カメラになっており、全温度範囲で常に低バックグラウンドの撮影が可能。
ターゲットは、Moの回転対陰極(21kW)を用いている。
現在利用停止中
Bruker社製CCDシステム(SMART APEX)。
単結晶構造解析に用いている。detectorの性能、吸収補正は非常に良い。
X線はIPと共通線源であるので、IPの使用中に試料交換はできない。

 
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