走査型電子顕微鏡

走査型電子顕微鏡（Scanning Electron Microscopy）は試料表面に細く絞った電子線を照射・走査して得られた信号をスクリーンに結像することで拡大像を得ます。通常は大きさ1ミクロン以上の粒子の形状，組織，化学組成を調べるのに適していますが，調整によって1ミクロンを下回る粒子の観察も可能です。

SEM写真館には各装置で撮影したSEM写真をおいているので，性能などの参考にしてください。